2015年4月7日至11日，第十届国际电气与电子工程师协会微纳工程与分子系统国际研讨会（The 10th IEEE International Conference on Nano/Micro Engineered and Molecular Systems, 以下简称IEEE-NEMS会议）在西安举行，作为分会场主席，我校电子与电气工程系副教授汪飞带领课题组的两名2012级本科生巩旭、彭卓腾参加了会议。两名本科生分别在会议上发表了论文。

巩旭（右）、彭卓腾（左）与汪飞副教授（中）在IEEE-NEMS会场。

       4月10日下午，巩旭获邀在大会上发表口头报告，其论文题目是《利用微型四探针检测二维材料的线缺陷特性》（Line Defect Detection on 2D Materials with Micro Four Point Probe Measurement）。此文针对石墨烯等薄膜材料线缺陷的探测进行了讨论，通过对薄膜材料上几种不同位置和尺寸的线缺陷探测进行仿真研究，提出一种用四探针探测二维材料线缺陷的方法。该论文得到与会学者的关注。

巩旭在IEEE-NEMS大会上作口头报告。

利用四探针原理检测二维材料线缺陷特性的耦合场仿真模型。

       彭卓腾获邀在本次大会上发表展板论文(poster)，题目是《用于可穿戴设备的人体运动能量采集技术》（Energy Harvesting from Human Motion for Wearable Devices），重点介绍了他与我校另外两位同学程齐家（2011级）、林杰（2012级）及实验员李闪闪共同研究开发的应用于未来可穿戴设备的能量采集技术。本次论文是他们继获得2014年度“爱•创•造”电子工程创客挑战赛总冠军后再度亮相国际学术舞台（相关新闻链接：http://www.sustc.edu.cn/cn/news/view/alias/cQ9b808nGu）。

       IEEE-NEMS会议是由国际电气与电子工程师协会纳米技术委员会主办的关于微纳机电系统（MEMS/NEMS）、纳米技术和分子技术的高水平国际会议，旨在汇集世界一流的研究者、科学家以及工程师讨论微纳工程与分子系统领域的最新研究成果。本届会议共接收了来自世界27个国家和地区的170篇论文。2016年4月，下一届IEEE-NEMS会议将于日本仙台召开。